X射线发生器部分：最大输出功率：3kW；额定电压：60kV；额定电流：60mA。         

X射线光管部分：X射线光管：Cu靶，陶瓷X光管，2.2 kW；焦斑大小：0.4 x 12 mm。 2. 测角仪部分         
2theta转动范围：-10°~168°；可读最小步长：0.0001°，角度重现性：0.0001°；全谱范围内所有峰的角度偏差不超过±0.01度。

探测器部分：         
探测器类型：能量色散阵列检测器；最大计数：≥1 x 109 cps；线性范围：≥4x107 cps；背景：<0.1 cps         探测器自身能量分辨率：≤380eV，光路中无需插入滤光片或者单色器即可有效去除Kβ        提供的半导体阵列探测必须适合小角和广角测试，小角最小从0.3度开始

该设备能够精确地对金属和非金属多晶粉末样品进行物相检索分析、物相定量分析、薄膜材料的物相、厚度、密度、粗糙度分析。晶胞参数计算和固溶体分析以及纤维样品的取向、结晶度分析, X射线小角散射分析。可开展物相定性分析（粉体、块体与薄膜等）；物相定量分析；精确测定点阵常数；晶粒大小及晶格畸变测定；颗粒大小及其分布测试；薄膜厚度（<100nm）及粗糙度测试；物质相变测定等。

仪器主机