通用型场发射扫描电子显微镜
仪器编号
规格
生产厂家
赛默飞(FEI)
型号
FEI Apreo2S SEM
制造国家
美国
分类号
放置地点
郭可信材料表征中心 B129
出厂日期
2023-08-24
购置日期
2023-08-24
入网日期
2023-10-09
主要规格及技术指标

1、分辨率(二次电子像):高真空模式:0.7 nm@15 kV,0.9 nm@1 kV、低真空模式(30 Pa):1.2 nm@15 kV;
2、放大倍率:30-1000000倍;
3、加速电压:200 V-30 kV、着陆电压:20 V-30 keV;电子束流1pA-50nA,连续可调;
4、探测器:普通二次电子探测器(ETD)、镜筒内低位高灵敏度BSE探测器(T1)、镜筒内中位二次电子探测器(T2)、镜筒内高位低能量电子探测器(T3)、极靴下自动伸缩式角度选择8分割BSE探测器(ABS/CBS);
5、分析模式:3种分析模式。

主要功能及特色

Thermo Scientific Apreo2S SEM具有多功能性和高质量成像性能,采用了创新性的末级透镜设计,引入静电式末级透镜,支持镜筒内高分辨率检测。

主要附件及配置

1、牛津UltimMax100EDS及SymmetryS3EBSD分析系统:①EDS分辨率优于127eV(MnKα处)、元素分析范围Be4-Cf98、高分子超薄窗,100mm²有效面积;②EBSD在线最高标定解析速率优于4500点/秒、最小工作电流100pA、最小工作电压5kV。
2、Kammrath Weiss GmbH高温原位拉伸台:①配备5kN拉伸/压缩台及500N传感器,最大载荷5kN,力分辨率1N,拉伸速度0.1μm/s-20μm/s,位移分辨率0.1μm,最大行程45mm;②1200℃加热附件,温度稳定性1℃;③EBSD测试附件;④典型试验尺寸50-60mm,最大宽度10mm,最大厚度5mm;⑤配备夹具包括3点弯曲夹具、棒状试样夹具、薄膜试样夹具、微型T状拉伸夹具。

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