高分辨场发射透射电镜TEM
仪器编号
规格
生产厂家
赛默飞(FEI)
型号
Talos F200X G2
制造国家
美国
分类号
放置地点
4#B129
出厂日期
2023-08-24
购置日期
2023-08-24
入网日期
2023-12-19
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主要规格及技术指标
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1、TEM分辨率：点分辨率≤0.25 nm、信息分辨率≤0.12 nm； |
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主要功能及特色
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Talos F200X 具有优秀的高分辨率 STEM 和 TEM 成像与业界领先的能量色散 X 射线光谱 (EDS) 信号检测，可在多维度下对纳米材料进行快速、精确的定量表征。可用于材料的显微结构分析，对材料晶格、缺陷或界面原子结构表征，给出材料的化学成分信息、电子结构和成键信息。 |
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主要附件及配置
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无 |
暂无收费信息
