双球差校正透射电子显微镜TEM
双球差校正透射电子显微镜TEM
仪器编号
规格
生产厂家
赛默飞(FEI)
型号
Spectra Ultra
制造国家
美国
分类号
放置地点
出厂日期
2023-08-24
购置日期
2023-08-24
入网日期
1970-01-01
主要规格及技术指标

1、TEM信息分辨率:≤60 pm @300 kV,≤80 pm @200 kV, ≤100 pm @60 kV;
2、STEM分辨率: ≤50 pm @300 kV,≤70 pm @200 kV, ≤96 pm @60 kV;
3、一体化球差校正器:物镜球差校正器,最低优化校正到3阶像差以上、聚光镜球差校正器,最低优化校正到5阶像差以上;
4、高灵敏度16分割Panther STEM探头及HAADF探头。可采集BF、ABF、ADF、LAADF、HAADF以及DPC、iDPC信号;

主要功能及特色

Spectra Ultra双球差校正透射电镜能在多种加速电压条件下对材料原子尺度结构成像与成分分析。电镜搭载双球差校正器、超级单色器、大面积能谱仪、K3直接电子相机能量损失谱仪等。同样适用于对电子束敏感材料进行快速、精确的微区结构及成分定量表征。

主要附件及配置

暂无收费信息