球差校正场发射透射电子显微镜系统TEM
仪器编号
规格
生产厂家
日本电子(JEOL )
型号
JEM-ARM300F2
制造国家
日本
分类号
放置地点
出厂日期
2023-08-24
购置日期
2023-08-24
入网日期
1970-01-01
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主要规格及技术指标
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1、 TEM信息分辨率：60 pm@300 kV；70 pm@200 kV；90 pm@80 kV； |
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主要功能及特色
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JEM-ARM300F2 具有高亮度、高相干性、低能量展宽的冷场发射电子源，配备聚光镜、物镜双校正系统， 可实现亚埃尺度的高分辨STEM、ABF、BF、DF、HAADF以及高分辨相干像等成像功能。同时配合高分辨率的X 射线能谱仪及电子能量损失谱仪，实现研究材料中轻、重元素原子亚埃尺度分辨率下同时成像及元索分布分析， 实现材料中全组元的结构及组成原子级分析。 |
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主要附件及配置
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无 |
暂无收费信息
