1.测定波长范围：175~3300nm；2.杂散光：0.00007%T，在220，340，370nm按ASTM E-387法测量；3.仪器线性范围：8A；4.波长精度：UV/Vis ±0.08nm，NIR ±0.3nm；5.波长重复性：< 0.02nm D2锐线，< 0.005nm 10次测定SD

可测量固体/液体样品在紫外-可见-近红外范围内的特征吸收，主要用于半导体、光学元件、建筑材料、新型材料等行业。该仪器还可以配备一系列行业领先的、可控而且灵活的采样附件，包括：大体积双样品舱、通用反射附件、插入式积分球、万能光学平台

仪器主机（含计算机、包括UV WINLAB软件）