磁学测量系统
磁学测量系统
仪器编号
Magnetic Property Measurement System
规格
生产厂家
Quantum Design
型号
MPMS3
制造国家
美国
分类号
放置地点
B302
出厂日期
2024-05-11
购置日期
2024-05-11
入网日期
1970-01-01
主要规格及技术指标

1、磁学测量系统主机
1.1 温度区间:1.9 - 400 K
1.2 降温速度:30 K/min(10K < T < 300K,15分钟内稳定);10 K/min(1.9K < T < 10K,5分钟内稳定)
1.3 样品腔内径:9 mm
1.4 磁场强度: ±7 T
1.5 励磁速率:4 - 700 Oe/s
1.6 样品振动范围:0.1 - 8 mm(峰值)
1.7 最大测量磁矩:2 emu(DC Scan);>100 emu(VSM)
1.8 测量灵敏度:≤2500 Oe:≤5×10-8 emu(DC scan);≤1×10-8 emu(VSM)
>2500 Oe:≤6×10-7 emu(DC scan);≤8×10-8 emu(VSM)
2、水平旋转杆选件
2.1 样品尺寸:4 mm×4 mm×2 mm
4 mm直径(薄膜样品台)
2.2角度范围:0°~360°
2.3 转角步长:0.1°
2.4 重复度:<1.0°(转动回差<10°)
3、交流磁化率测量选件
3.1 AC频率范围:0.1 Hz - 1 kHz
3.2 AC磁场振幅:0.1 - 10 Oe
3.3 AC磁矩灵敏度:≤ 5×10-8 emu
4、高温炉及高真空选件
4.1 温度范围:315-1000K
4.2 温度精度:≤2%
4.3 温度稳定度:±0.5K
4.4 磁矩灵敏度:1×10-6emu@H≤2500Oe
8×10-6emu@H>2500Oe
4.5 最大样品尺寸:10mm×5mm×2mm

主要功能及特色

该设备在超导量子干涉仪(SQUID)探测技术的基础上,提供1.9~400 K的变温环境和±7 T的变磁场环境,也可扩展至1000 K的温度区间,可全方位、多角度对材料的磁学性质进行快速精确表征,包括磁滞回线、矫顽场、磁化强度、剩磁等关键磁性参数。所涉及的领域包括物理、材料、化学、生物、地质等学科,所能研究测量的材料涵盖金属、陶瓷、半导体、超导体、软磁、硬磁、合金、有机材料、介电材料和高分子材料等等,材料的形式可以是块材、薄膜、粉末、液体、单晶及纳米材料等。

主要附件及配置

水平旋转杆选件,交流磁化率测量选件,高温炉及高真空选件

暂无收费信息