技术保障 - 仪器设备
球差校正场发射透射电子显微镜系统TEM
| 仪器编号 | |
| 规格 | |
| 生产厂家 | 日本电子(JEOL ) |
| 型号 | JEM-ARM300F2 |
| 制造国家 | 日本 |
| 分类号 | |
| 放置地点 | |
| 出厂日期 | 2023-08-24 |
| 购置日期 | 2023-08-24 |
| 入网日期 | 1970-01-01 |
仪器详细信息
设备预约
| 主要规格及技术指标 | 1、 TEM信息分辨率：60 pm@300 kV；70 pm@200 kV；90 pm@80 kV； |
| 主要功能及特色 | JEM-ARM300F2 具有高亮度、高相干性、低能量展宽的冷场发射电子源，配备聚光镜、物镜双校正系统， 可实现亚埃尺度的高分辨STEM、ABF、BF、DF、HAADF以及高分辨相干像等成像功能。同时配合高分辨率的X 射线能谱仪及电子能量损失谱仪，实现研究材料中轻、重元素原子亚埃尺度分辨率下同时成像及元索分布分析， 实现材料中全组元的结构及组成原子级分析。 |
主要附件及配置 |
无 |
