技术保障 - 仪器设备


综合物性测量系统
| 仪器编号 | Physical Property Measurement Sy |
| 规格 | |
| 生产厂家 | Quantum Design |
| 型号 | PPMS Dynacool |
| 制造国家 | 美国 |
| 分类号 | |
| 放置地点 | X楼B303 |
| 出厂日期 | |
| 购置日期 | 2023/08/25 |
| 入网日期 | 2025.4.3 |
仪器详细信息
| 主要规格及技术指标 | 1、主机系统 1.1 温度控制系统 温度范围: 1.9 K - 400 K 控温模式:连续低温控制和温度扫描模式 1.2 磁场控制系统 纵向磁体, 磁场强度:±14 T 从零场加至满场所需时间: ≤30分钟 磁场逼近模式:线性加场、振荡加场、非过冲式加场 1.3 样品腔 样品腔直径:不小于25.4 mm(1英寸) 2、磁扭矩选件 扭矩测量范围:±10^-5 Nm 3、直流电测量功能 能够全自动测量电阻率(磁阻)、霍尔系数和伏安特性 输出电流量程:10 nA - 8 mA 最大电压:4 V 4、高级电输运测量功能 电压输出范围:±4 V (一倍增益时) 电流范围: 10 nA-100 mA 持续操作 频率范围: 0.1 Hz-200 Hz 5、快速霍尔选件 电流范围:1 μA-100 mA 电流测量范围:100 mA-10 nA 限定电压:最大10 V 电压测量范围:1 mV-10 V 限定电流:100 mA 6、范德堡测量全自动控制模块 可测电阻范围:10 μΩ~4 MΩ 7、比热测量选件 测量温度范围:1.9 K-400 K 可测比热大小范围:1μJ/K - 100 mJ/K 8、热输运测量选件 测量温度范围: 1.9 K-400 K Seebeck 系数测量范围:1 μV/K - 1 V/K 9、光电输运性质测量选件 光源:100 W短弧氙灯 波长范围:280-1100 nm 光栅线密度:1200 单色仪输出:半峰宽20 nm 10、样品旋转杆选件 转角范围:-10° - 370° 转动步长:0.013° 转动速度:最大10°/s 转动回差:< 5.0° 11、膨胀系数选件 分辨率: △L/L 分辨率 10^-9 (2 mm样品) 12、稀释制冷机 温度范围: 50 mK - 4 K 冷却时间: 8小时从300 K - 100 mK 13、高精度铁磁共振测量选件 温度范围:4 K -400 K 频率范围:2 GHz -40 GHz 14、电测量专用高压包 最大施压:3 GPa(室温); 腔体材质:BeCu合金 传压介质:Daphne7373 15、样品尺寸 磁扭矩样品:≤1.5mm*≤1.5mm*≤0.5mm且≤10mg 电学样品:≤10mm*≤10mm*≤1mm (粉末样品需要压片测试) 霍尔样品:≤10mm*≤10mm*≤1mm(正方体等对称形状或霍尔bar) 比热样品:≤2.5mm*≤2.5mm*≤1mm(表面光滑) 热输运样品:≤15mm*≤2mm*≤1mm 膨胀样品:长:2mm±0.05mm(测量方向) 厚:<3mm 宽:<2.5mm 铁磁共振样品:≤17mm*≤13mm 电测量高压包样品:直径<4mm,高<6mm |
| 主要功能及特色 | 该设备可以提供1.9~400 K的温度环境和高达14 T的磁场环境,并可在此环境下对样品进行直流电阻率、交流电阻率、伏安特性曲线、霍尔特性、光电测量、各向异性磁电阻、高压下的电阻等电学测量;热学方面可以进行比热测量、热电测量、热导率测量。极低温方面,该系统可以采用稀释制冷机选件实现最低50 mK温度下的电学和比热测量。另外系统还可以实现铁磁共振测量、膨胀系数测量,还可以实现外接各种仪表的协同测量。该设备在物性测量领域具有极大的普适性,能够对材料领域的前沿基础研究起到有力促进作用。 |
主要附件及配置 |
磁扭矩选件,直流电阻测量选件,高级电输运测量系统选件,快速霍尔测量选件,范德堡测量全自动控制模块,比热测量选件,热输运测量系统选件,光电输运性质测量样品杆,样品水平旋转杆,膨胀系数选件,稀释制冷机选件,比热和稀释制冷机兼容组件,高精度铁磁共振测量选件,电测量专用高压包 |





