郭可信材料表征中心现已完成辉光放电质谱仪（GD-MS）、激光粒度仪、ZETA电位分析仪三台高端理化分析设备的安装与调试工作，即日起正式投入运行。此系列设备可提供精确的元素成分、颗粒粒度及表面电位分析，将极大地支撑您在材料科学、化学、物理等多前沿领域的创新研究。

仪器列表如下：

1.辉光放电质谱仪（Glow Discharge Mass Spectrometry,  Element GD Plus）具备全元素分析能力，一次分析可覆盖基体元素至超痕量元素，检出限低至亚ppb级别，适用于高纯度金属、半导体、陶瓷、稀土材料及特种涂层等多种材料的痕量杂质分析。该设备还支持深度剖析功能，可精确呈现元素浓度随深度的分布信息，为材料表征与工艺优化提供关键数据支持。

2.激光粒度仪（Malvern Panalytical Mastersizer 3000+ Ultra），基于激光光散射技术表征颗粒样品粒径分布，配置干法分散器、湿法分散器和小容量湿法分散器，粒径测试范围可覆盖0.01～3500um。

3.ZETA电位分析仪（Malvern Panalytical Zetasizer Pro），采用动态光散射（DLS）测量从0.3nm到10µm的颗粒和分子的粒度及粒度分布，采用电泳光散射（ELS）测量颗粒和分子的Zeta电位，显示样品稳定性和/或团聚倾向性。